高速捲帶晶圓外觀檢查機台
. 支援多種尺寸產品檢測
. 可程式設定的燈源亮度控制
. 60K超高速的穩定檢測速度
. 即時顯示晶粒檢測結果功能
. 程式自動搜尋第一顆晶粒位置
. 客製化的報表產出並可配合雲端資料庫的系統上傳
. 操作簡易可中英語系切換
. 彈性化的功能選配
. 提供完整的教育訓練及售後的維護
