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PRODUCT CATEGORY產品介紹

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紅外線晶片檢查設備

紅外線晶片檢查設備

利用紅外線系統穿透矽材料原理

透視矽晶圓內部自動分辨內部瑕疵

 

 

 

 

 

產品介紹

. 自動檢測捲帶產品因切割所造成的矽材料與金屬層剝離所產生的缺陷

. 紅外線相機利用對於矽材料進行穿透與金屬層的反射並擷取側崩的瑕疵效果

. 機台客制化且結合日本先進光學技術並強化軟體功能

. 客製化的報表產出並可配合雲端資料庫的系統上傳

. 軟硬體操作簡易可中英語系切換

. 提供完整的教育訓練及售後的維護

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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- 杰楓科技有限公司 -

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